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晶体结构及物相分析系统

更新日期:2016-12-27

 

此设备利用X射线对金属、feiku金属多晶以及单项样品进行定性或者定量分析,同时对薄膜(单层或者多层)样品分析、粉体样品的物相分析、颗粒粒径分析、晶胞参数分析等项目有较强的检测能力。